SEM和TEM是材料科学中常用的两种技术，它们分别表征材料的不同方面，SEM（扫描电子显微镜）主要用于观察材料的表面形态和结构，而TEM（透射电子显微镜）则更侧重于研究材料的微观结构和化学成分。
SEM技术通过向材料发射电子束，并在电子显微镜下观察其散射情况，从而获得材料的表面形态和结构信息，这种技术可以用于观察纳米级和微米级的材料表面，如薄膜、颗粒、纤维等，SEM技术可以提供材料的形貌图像，包括颗粒大小、分布、表面粗糙度等，是材料表征的重要手段之一。
TEM技术则是通过将材料进一步处理，将样品切成薄片，然后利用电子显微镜进行观察，由于电子显微镜的分辨率远高于光学显微镜，因此TEM技术可以观察到纳米级的结构和化学成分，TEM技术可以提供材料的晶体结构、晶粒大小、缺陷等信息，对于研究材料的微观结构和化学成分非常有用。
SEM和TEM在材料科学中的应用非常广泛，可以用于材料的性质研究、质量评估、工艺优化等方面，通过这两种技术，可以深入了解材料的表面和内部结构，从而更好地理解和控制材料的性能和性质。
SEM和TEM是材料科学中非常重要的表征技术，它们分别表征材料的表面形态和微观结构，为材料的研究和开发提供了重要的信息支持。
